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LCR測試儀 3532-50 |
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LCR測試儀 3532-50
LCR測試儀 3532-50•測試頻率可在42Hz~5MHz寬廣頻率量程內以4位精確度自由調整•可很容易地測試被測物在高頻量程內的特性。 .. |
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阻抗分析儀IM3570 |
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阻抗分析儀IM3570
1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量
基本精度±0.08.. |
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HIOKI 微電阻計 3540 |
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HIOKI 微電阻計 3540
微電阻計 3540-01/3540-02/3540-03
用于線圈或產線的電阻至高電阻測量 測量源:DC 最短響應時間:100ms 采樣率: 16 次/秒最高分辨率:10μΩ.. |
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LCR測試儀3535 |
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LCR測試儀3535
100kHz~120MHz的寬頻帶
高速LCR測試(6ms/采樣)
拆卸式前置放大器可選擇
為比較標準元件提供補償的“負載補償功能...
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HIOKI 電池測試儀 3561 |
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HIOKI 電池測試儀 3561
電池測試儀 3561-01 (和GP-IB接口) 測量鋰電池電壓和內阻 高精度:電阻±0.5% rdg. ±5dgt., 電壓±0.01% rdg. ±3dgt. 高分辨率:電.. |
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HIOKI C測試儀 3504 |
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HIOKI C測試儀 3504
高速測量2ms 能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷 對應測試線,比側儀功能/觸發輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選.. |
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日本目黑 MQ-1601Q 表 |
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日本目黑 MQ-1601Q 表
15.5kHz ~ 50MHz, Q值測量范圍: 5 ~ 750;可以測定線圈的Q值、有效電感、有效電阻、分布電容、電容器的Q值、有效容量、電阻器的高頻有效電.. |
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HM9481高頻自動Q表 |
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HM9481高頻自動Q表
HM9480和HM9481是電感元件高頻參數綜合測試儀,它們可以測量有效Q值(Qe)、有效電感(Le)、配諧電容(Ca)、有效阻抗(Ze)、有效電抗(Xe)、.. |
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